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| rx solutions丨納米級工業(yè)ct作為成像技術(shù)領(lǐng)域具有發(fā)展前景的技術(shù)之一 |
| 發(fā)布者：無錫瑞埃德檢測科技有限公司 點(diǎn)擊：4785 發(fā)布時(shí)間：2024-12-09 |
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x射線納米斷層掃描是建立在現(xiàn)有微米級工業(yè)ct技術(shù)的基礎(chǔ)之上，將渲染三維圖像的分辨率提高到亞微米級別，而分辨率的提高能幫助客戶更清晰地看到零部件的內(nèi)部缺陷。我們將其稱為“納米級工業(yè)ct”，“納米”一詞用來表示掃描獲得的截面上最小的像素尺寸在納米范圍內(nèi)。  如大家所知，x射線斷層掃描技術(shù)是一種無損檢測技術(shù)，在許多行業(yè)中被用作檢查零件內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)。在過去的十年中，納米級別的工業(yè)ct得到了巨大的技術(shù)改進(jìn)，現(xiàn)在能夠提供更好的成像效果。 要做到納米級別的掃描效果，設(shè)備通常要求非常小的樣件掃描尺寸，但是目前的技術(shù)對于樣件的制備基本沒有要求，這就意味著任何樣件只要尺寸控制到位，都可以通過掃描獲取整個(gè)的三維模型，這樣的話就大大節(jié)省了樣件制備的時(shí)間，幫助客戶優(yōu)化了成本。 同時(shí)根據(jù)應(yīng)用情況，納米級工業(yè)ct中的射線源焦點(diǎn)尺寸可小于400納米，結(jié)合功能強(qiáng)大的探測器（如ccd攝像頭），設(shè)備可實(shí)現(xiàn)高達(dá)400納米的真實(shí)分辨率，性能大大超過傳統(tǒng)的微米級工業(yè)ct系統(tǒng)。射線源焦點(diǎn)的尺寸大小是微米級工業(yè)ct和納米級工業(yè)ct之間的關(guān)鍵區(qū)別，焦點(diǎn)尺寸越小，整個(gè)系統(tǒng)的細(xì)節(jié)識別能力就越強(qiáng)。  如圖所示為納米級ct 在復(fù)合材料上應(yīng)用案例 分辨率為0.7μm 與傳統(tǒng)的微米級工業(yè)ct一樣， 目前，無錫瑞埃德檢測有幸成為工業(yè)ct領(lǐng)跑企業(yè)――法國rx solutions 中國區(qū)市場拓展伙伴，將努力為大家提供最好的服務(wù)和產(chǎn)品，助力中國產(chǎn)業(yè)提升。 本公司主營項(xiàng)目：測量儀器,軸類測量儀,光學(xué)軸類測量儀,vicivision,工業(yè)ct,無損檢測,3d掃描,光學(xué)三坐標(biāo),x射線三維成像 |
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